●手机面板、遥控设备、小孔透过率检测，微小滤光片透过率检测。

●滤光片、有机材料、镀膜片透过率检测。

●微孔滤光片、薄膜材料透过率检测。

●毛细管、液滴、微量溶液透过率检测。

●不规则薄膜、塑料膜层、高分子材料膜层膜厚检测。

●薄膜厚度检测。

本产品中光谱仪的激光光源发射谱线，经过测试样本后，光谱仪接收谱线，谱线经过光栅分谱后形成光谱，测量每种谱线的强度，再对比穿过样本前谱线强度，计算出样本的透过率，或者测试样本的厚度。本产品中采用了先进的共聚焦技术，光谱、成像以及献策光源共焦于一点，确保不会受到外部光源的干扰，提高检测和成像效果。本产品主要用于测量各种光学元件和高分子材料的透过率，检测产品的质量，以及用于检测各种不规则薄膜、塑料薄膜等的厚度。相对于之前市场上的透过率检测仪，本产品的误差更小，并且可以同时进行透过率和厚度的检测，本产品采用了最新的共聚焦技术，能够有效 防止杂质信号，如灰尘荧光、样品背面污染、玻璃的荧光信号、空气中常见的灰尘颗粒等产生的背景噪音的影响，大大提高了测量精度。

●采用先进的共聚焦技术，光谱，成像，检测光源共焦于同一点，保证所见即所测。

●采用宽波段消色差技术，400-1000nm范围内色差控制在较小的范围内。

●检测信号强，光学系统的数值孔径为0.18，比普通显微镜的0.02大9倍。

●测量斑点小，5倍镜头下，检测光斑小于0.1mm。

●无需担心外界光干扰，在共焦的条件下外界光无法进入系统光路。

●采用进口光谱仪为检测器，提高光谱的灵敏度和稳定性。

1、打开软件后先观察谱图区是否显示红色谱线，确保谱线能量在 35000 左右，若能量不 在 35000，则通过调节积分时间来调节谱线能量强度（调节方法：设置界面——参数设置——积分时间，注：积分时间乘以平均次数的值必须小于 1000）

2，再放上一个样品观察相机显示区是否有图像

3，若打开软件未看到谱线和相机显示图像，请关闭软件后重新插拔电脑主机后面的数据线，再重新打开软件。

一 ，存暗、存参考

1）  切换到背光

打开软件后，在样品口放置一个样品，将 ZK-MicroT30 上样品台右边切换拨杆往里推，底 部会有照明光源打出，或打开平台上方的照明灯（开关仪器右方的黑色圆形按钮），再调节 平台治具的 XY 调节旋钮来使待测样品的 IR 孔与平台孔相对应，使光斑穿过样品，然后旋 紧治具锁紧按钮。

2）  焦距调整

调整 ZK-MicroT30 上的粗微调旋钮，使得在视频窗口能清晰观察到样品，如下（IR 孔）：

3）  切换到检测

将 ZK-MicroT30 上样品台右边切换拨杆往外拉，谱图上会出现光谱。

4）  存参考

以上步骤调整完毕后，确保样品口不放置任何东西，点击工具栏的粉色按钮，进行存参考。

5）  存暗 将平台下的调节拨杆向里推，观擦软件谱线是否为零

然后点击灰色按钮存暗。

6）点击完成后 ，不拉出调节拨杆，可以看到表格结果都是接近0的值：

7）拉出调节拨杆，可以看到表格结果是接近100的值。

注：如果第8步和第9步的结果不符，则重新做第6步和第7部，且先后顺序无关。

8）完成存参考存暗步骤后，软件谱线会自动切换到透过率谱线，

透过率谱线是一条 Y 值接近 100 的谱线，若谱线与图不符合，请重复存参考存暗步骤。

1） 人员设定：点击资料设定→人员设定

可以对操作员工的信息进行添加、移除、修改，操作完成后关闭窗口。

2）班次设定：点击资料设定——班次设定，

可对班次进行添加、删除、保存。

3）产品设定：点击资料设定——产品设定

可添加、删除、修改产品信息。

如上图为产品检测的波长位置与检测设定的上下限，右侧可进行检测位置的添加或删除，设置完成后请点确定。

4）新建项目：点击项目——新建项目

输入项目名称，选择相关的产品、班次、检测人员，相关按键右边的设置按钮也可对资料进 行修改，完成后点确定。

5）检测：将界面切换至项目管理界面

此处显示了所建项目的相关信息。 将样品轻放在样品台上，点击检测尽心当前产品的检测，当点击了一次检测过后，后续产品 的检测可按键盘空格进行检测（注：空格键重复的是上一次鼠标所点击的命令，所以若鼠标 未点击检测，请勿按空格）

6）结束，查询项目：当前检测项目完成后（如白班晚班交接续导出数据的时候）点击结束，结束当前项目，若点击结束后续重新新建项目，不点结束，会造成当前项目数据一直积累， 造成检测数据混乱。

结束项目后点击项目——查询项目

如上图：若要导出相关项目数据，在项目区找到相关项目的编号，右键鼠标选择导出多个数 据，

选择导出数据起始编号与结束编号，选择导出路径，然后点击导出。 若要导出单个数据，则右键选择样品区的需要导出的相关样品，右键打印报表，填写步长（此为导出单个数据时将检测数据按照什么样的间隔显示数据。）

点击 OK，出现下图即为按照步长显示的数据，可选择打印或是导出

7）检测时的数据导出：若未检测结束也想到处或查看数据，请在主界面的表格显示区右键 检测数据后选择导出单个或者多个数据。

进入后方法如同步骤 6 查询数据。

1.  使用情况

由于每种透过率检测的原理、结构不同，在测量同样的样品时，会出现数据对不上 的情况，误差在一定范围内是正常现象。

2. 误差引起原因

出现误差的情况：

1.仪器通过底部打光，经过小孔采用镜头接收，与积分球接收的差异。 由于经过镜片，光折射后进入镜头的光，比做参考时进入镜头的光更多，导致 测量数据偏高。积分球检测则无此误差。

ZK-MicroT30 采用积分球的原理检测。

2.仪器使用光谱仪没有消除二级衍射光产生的误差。 由于内部分光模块没有加消二级衍射的光，导致测量数据偏高。添加了消二级 衍射滤光片的仪器测量会更准确。

ZK-MicroT30 内部有加消二级衍射的滤光片。

3.仪器分辨率不同引起的误差。 由于光谱仪的狭缝宽度不同引起分辨率不同，在测量一些峰值或凹点时会产生误差，分辨率高的仪器测量会更加准确，测量峰值时会更高，测量凹点时会更低。 如下图黄色的分辨率低，绿色的分辨率高，绿色的测量值会更准确。ZK-MicroT30 采用 3nm 的高分辨率。

4.小孔与光斑同样大小引起的误差：

底部打光、上面镜头接收的方式，当仪器的检测口与镜片直径相同时，引起的

测量值偏小。红色斜线部分为被黑色油墨挡住的光，由于被挡住部分透过的光，故其测量结果会偏低：

Micro-T1 的光斑为0.2mm，远小于IR 孔的直径，故无此误差。

3. 误差补偿方式

Micro-T1 针对以上误差，使用一组弥补系数对数据放大或缩小至标准片的数据。

Micro-T1 测量标准片的值： A

标准片的标准值：         B

补偿系数：           C=B/A

测量样品的原始值：       D

测量样品补偿后值：   E=C*D

4. 补偿操作

1.打开“透过率光谱分析软件”，存暗，存参考。

2.点击菜单栏“资料设定”——“透过率系数设定”，打开透过率系数设定界面。

在数据区点击鼠标右键进行相关波长的添加和删除。

波长确定后点击刷新。

3.填入标准片的标准值。

4.放上标准片，调整到检测口光斑确保正确打入，点“透过率系数设定”窗口里

的“刷新”按钮，进行刷新“当前值”。

5.点击计算，（多余的波长可删除，少了的波长可添加，添加后请点刷新，确保

当前值准确。）

6.计算后选择对应的油墨种类，一般保存为IR 油墨，点击使用系数。点击保存。

7.保存后，退出设定窗口，观察测量值，是否和标准片值一致，如误差较大，重复上述步骤，或者拨打厂家电话。