接触法探头

接触法直探头, 保护膜，带保护膜探头

•   一般检测目的, 简单形状的大零件

•   锻件, 铸件

•   板材, 棒材, 方型材

•   容器, 机器零件, 壳体

•   高温检测时带延迟块

性能特征

•   欧款有可更换膜:

- 在不平整和曲面上增进耦合

- 延长探头寿命

- 适于DGS缺陷评定

- 可连接高温延迟块

- Lemo   (B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 连接端口, 标准为侧装, 顶装可选

•   美款有三种类型的保护:

- 膜可以在不平整和曲面上增进耦合.

- 耐磨帽定期更换可无期限延长探头寿命

- 高温延迟块可以实现  00°F (  00°C)表面检测.

- BNC 连接端口, 顶装或侧装

接触法探头

接触探头主要用于手动检测。应用接触法探伤时，需要在测量区域或多个测量区域涂上薄薄的一层耦合剂，然后直接将探头 放置在被测物体表面进行检测。

耦合剂（用于藕合探头和被测物，如油，甘油等）添加在探头 和被测物体之间的空气间隙中，使声波传输进入被测物体。接触法探伤将探头分别放置在各检测点逐点检测，或者在被测 物体表面连续移动探头来完成的。

大 表 面 要 以 某 种 网 状 模 式 进 行 扫 描 检 测 ， 网 格 的 宽 度 取 决 于缺陷的程度和检测标准。

如果不能使用耦合剂，那么就要在某些探头上使用耦合帽，它由软塑料制成。

有 两 种 类 型 的 探 头 可 供 检 测 选 用 ： 单 探 头 （ 图 1 ） 和 双 晶 探头 （ 图 2 ） 。 两 种 探 头 都 是 在 垂 直 于 被 测 物 体 表 面 的 方 向 上

发 射 和 接 收 脉 冲 （ 直 探 头 ） ， 或 者 是 在 与 被 测 物 体 表 面 成 一 定角度的方向上发射和接收脉冲（斜探头，图3）。

接触式探头的选择标准

对于选用探头没有特别规定时，以下为推荐的探头选用标准供

参考：

首先，要决定选用单探头还是TR探头。如果要探测近表面的缺 陷，那么TR探头更合适些。

其次，就是根据预期的缺陷位置决定使用直探头还是斜探头。

根据声波的镜面反射原理，声束应该垂直入射到反射面。当频

率增加时，这一点必须要特别加以注意。

第三，考虑检测分辨率（声束宽度）。 最后，根据表中给出的数据和给出的探头类别选择，可以依据尺寸、频率、波谱和工作量程等选择最合适的探头.

带可更换保护膜的直探头

B0.5SL

形状与粗晶探头 K0.5S和K1S相同

B2S

设计上与K..SC探头相同

MB4S

设计上与MK..S探头相同

B2S-0

形状与K0.5SM和K1SM探头相同

主要特性：

·单晶探头实现声波的发射和接收

·纵波垂直传输

·即使是在粗糙或轻微弯曲的表面上，由于柔性的抗磨损保护膜而具有稳定的耦合特性

·如果及时地更换保护膜，则探头的磨损可以达到最小

·特殊的粗晶探头，在测试高衰减材料时，利用短脉冲可以达到高信噪比

·由于采用印模压铸成型，因此实际形状具有很高的稳定性

主要应用领域

通常：用于容器或者平行于表面的缺陷探测和评估。可更换的

抗磨损的保护膜可以使得探头在粗糙或轻微弯曲的表面也达到 最好耦合，并防止探头磨损。

B..SL：

用于检测中等尺寸和大尺寸物体，它们由于声程长（例如大的

锻 件 或 球 墨 铸 铁 ） 而 导 致 声 波 衰 减 严 重 。 它 们 也 适 用 于 检 测

具 有 强 声 波 吸 收 特 性 的 塑 料 材 料 （ 例 如 尼 龙 、 特 氟 龙 、 聚 丙 烯），为增加灵敏度和分辨率，可以将保护膜去掉。

K..S，K..SM，K..SC和MK..S（粗晶探头）：

用于检测粗晶粒中等尺寸和大尺寸物体，这种材料的物体由于

声波的散射作用（例如灰口铸铁、非铁重金属材料或者塑料合

成材料等制成的物体）而使声波衰减严重。 

它们也可以用于检测材料的物理特性（例如建筑材料、岩芯和 半导体材料的特性）。

B..S和MB..S： 这类探头性能参数误差小，对目前大多数的检测任务（例如平 板物、条状物和方形轮廓物体的测试，以及容器和螺钉、螺孔 和外壳等的测试），可以达到最高的精度要求。对于由多种材 料（例如所有的金属材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料）构成的 形状简单的部件检测也可以达到高精度要求。

带可更换保护膜的直探头

特性：在粗糙表面上具有稳定的耦合性能

带保护膜探头—欧洲规格

探头型号规格

可定制特殊规格探头

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