浪涌电流是电路异常引起的并使器件结温超过额定结温的不重复最大过载电流, 晶闸管浪涌电流测试台用于检验晶闸管的浪涌电流过载能力, 主回路采用LC振荡直接放电法, 浪涌电流接近正弦半波 。控制回路采用単片机控制,所测参数均采用数字表显示;是晶闸管和整流管等半导体器件的生产、应用厂家的必备测试设备 。

一、简 介

  该设备适用于对整流二极管、晶闸管的浪涌电流（ITSM/IFSM）及峰值电压（VTSM/VFSM）特性进行测试。测试台的测试方法符合国际电工委员会IEC标准及机械部JB/T7026-94标准和国标GB4024-83。

二．主要技术指标

     浪涌电流（ITSM/IFSM）测试范围：5~500A

   电流分档调节，数字表显示：5~20A分辨率0.1A精度±3%,

                         20A~500A分辨率1A，精度±3%；

   电流波形：正弦半波，电流底宽10ms±10%；

  测试频率：单次;

   不含反向电压；

   具有峰值电压测试功能（电流测试范围同上）；

峰值电压（VTSM/VFSM）测试范围：0.30~5.00V，分辨率0.01V，精度±3%，数字显示。

三．测试原理：

  电力电子器件在工作时，有时要承受较大的冲击电流，器件的用途不同，要求器件能承受浪涌电流的能力也不同，为了检测器件承受浪涌电流的能力，可产生一个大的浪涌电流施加于被测器件上，从而检测被测器件是否能承受大浪涌电流的冲击。

在施加浪涌电流时，要求被测器件的结温在规定的温度条件下测试。浪涌电流测试的电路原理图如下：

K：电流电子开关（SCR）；

FL：浪涌电流取样单元(分流器)；

V：电容充电电压；

DUT: 被测元件；

当按下测试按钮时，K开关接通，通过电容放电和电感对电流产生感抗形成正弦半波，通过被测元件，波形如下图；

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