X荧光膜厚仪CMI900

利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。

CMI900 X光膜厚仪是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。

无损分析：无需样品制备，经行业认证的技术和可靠性，操作简单，只需要简单的培训，分析只需三步骤

杰出的分析准确性，在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验，镀层测厚仪X-Strata系列使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量，保证质量的同时降低成本。X-Strata系列基于Windows2000中文视窗系统的中文版 Smartlink FP 应用软件包，实现了对CMI900/920主机的全面自动化控制。

高性X射线膜厚仪

快速精确的分析：正比计数探测器和50瓦微焦X射线管，大大提高了灵敏度

简单的元素区分：二次光束过滤器可以分离重叠元素

性能优化，测量元素范围广： 可预设参数
CMI900 提供800多种预设应用参数/方法

出的长期稳定性： 

自动热补偿测量仪器温度，纠正变化，提供稳定的结果

简单快速的光谱校准，定期检查仪器性能（如灵敏度），并提供必要的纠正

坚固耐用的设计

可以在实验室或生产线上操作

坚固的工业设计 

经行业验证的技术，在全球销售量超过3000台